日本 Photonic可分离型低相差双折射评估仪 可分离型多工位低位相差双折射评估仪 PA‑300‑MT，光源工位分离，适配产线集成，完成批量低位相差样品检测。

日本 Photonic适配第三方显微镜微区检测头 适配第三方显微镜微区检测头 PA‑micro‑S，低位相差微区测量，可对接现有显微镜实现双折射检测。

日本 Photonic显微式微区双折射评估仪 显微式微区双折射评估仪 PA‑micro，显微微区检测，采集微小试样局部相位差与应力分布数据。

日本 Photonic超大视场晶圆级双折射评估仪 超大视场晶圆级双折射评估仪 PA‑300‑XL，超大检测视场，适配大尺寸晶圆、玻璃，完成低位相差样品全域应力检测。

日本 Photonic大视场相位差双折射评估仪 大视场相位差双折射评估仪 PA‑300‑L，大视场成像，快速采集大尺寸样品相位差与应力分布数据。

日本 Photonic相位差双折射评估仪 相位差双折射评估仪 PA‑300，偏振成像检测，快速获取样品相位差、光轴角度应力分布数据。

日本 Photonic多工位双折射应力检测仪 多工位双折射应力检测仪 WPA‑200‑MT，支持多样品轮换检测，高效完成多件工件双折射应力测试。

日本 Photonic显微型双折射应力分析仪 显微型双折射应力分析仪 WPA‑micro，显微小视场检测，获取微小样品局部双折射应力分布数据。

日本 Photonic超宽幅二维双折射应力检测仪 超宽幅二维双折射应力检测仪 WPA‑200‑XL，超大视场成像，快速完成超大尺寸光学件双折射应力检测。

日本 Photonic大视场二维相位差应力检测仪 大视场二维相位差应力检测仪 WPA‑200‑L，三波长检测，大视野，快速获取大尺寸样品双折射分布。