日本 Photonic大视场二维相位差应力检测仪
大视场二维相位差应力检测仪 WPA‑200‑L，三波长检测，大视野，快速获取大尺寸样品双折射分布。

日本 Photonic大视场二维相位差应力检测仪

日本 Photonic大视场二维相位差应力检测仪

WPA‑200‑L 大视场二维相位差应力检测仪，属于 WPA‑200 系列大视野机型，采用三波长测量技术，可实现大相位差样品稳定检测，规避单波长测量的数据折返问题，保障检测数据真实有效。

设备主打大观测视场，无需移动样品扫描，单次成像即可完成大尺寸样品全域检测，输出相位差、光轴角度完整二维云图，检测速度快，数秒即可完成一组样品测试，有效提升中大尺寸工件检测效率。传感器可捕捉微弱双折射信号，既能查看样品整体应力状态，也可以识别局部微小应力集中区域，兼顾全局观测与细节分析。

整机机械结构稳固，升降调节行程充足，适配多种厚度规格样品，可更换镜头调整观测范围。设备操作简单，样品放置完毕就可以启动检测，调试工作量小，既可以用于实验室研发、工艺对比测试，也适配工厂产线的成品抽检工作。检测输出可视化应力云图，直观展现材料内部应力分布，快速定位工艺缺陷位置。

适用于大尺寸光学薄膜、大口径树脂镜片、注塑光学板材、AR/VR 光学组件、透明高分子板材等各类透明工件。可开展来料品质核查、成型工艺验证、退火效果比对、成品质量判定。量化残余应力指标，帮助技术人员优化注塑、热加工等工艺，降低内应力带来的光学畸变、成像不良等问题。

配套专业分析软件，支持数据查看、多组测试结果对比、检测报告生成归档，方便实验资料留存管理。设备兼顾测量精度与运行稳定性，为中大尺寸光学材料的双折射与残余应力评估，提供可靠的检测手段。