日本 Photonic可分离型低相差双折射评估仪
可分离型多工位低位相差双折射评估仪 PA‑300‑MT，光源工位分离，适配产线集成，完成批量低位相差样品检测。

日本 Photonic可分离型低相差双折射评估仪

日本 Photonic可分离型低相差双折射评估仪

PA‑300‑MT 可分离型多工位低位相差双折射评估仪，属于 PA‑300 系列分体式机型，专为低位相差样品批量检测与产线集成场景开发，光源与检测平台可相互分离，既可以在实验室独立使用，也能够嵌入自动化产线工位。设备测量范围 0‑130nm，适配玻璃、光学镜片等低应力工件检测株式会社フ...。

设备搭载 500 万像素偏振成像传感器，无需逐点扫描，数秒即可完成单次全域成像，直接输出相位差、光轴角度二维分布云图，检测无数据遗漏。针对低位相差样品做性能优化，最小分辨率可达 0.001nm，能够捕捉材料内部极其微弱的双折射信号，精准识别微小应力集中点位。整机无旋转滤光镜片结构，降低部件损耗，减少后期维护工作量。

设备采用光源与主机分离结构，灵活适配多工位载物台，支持多样品轮换检测，减少反复更换样品的耗时，提升批量样品检测效率。升降调节机构运行稳定，兼容多种厚度规格样品。设备调试简单，既可以用于实验室大批量试样对比分析，也可对接工厂自动化设备，实现在线品质检测。检测输出可视化应力云图，直观呈现材料内部残余应力分布，快速定位各类工艺缺陷。

适合光学玻璃、手机盖板玻璃、树脂镜片、蓝宝石基板、低位相差透明高分子元件等样品。可开展批量来料筛查、成型工艺验证、退火效果比对、成品品质判定。可选配应力换算功能，把相位差数据转化为应力数值，辅助技术人员优化热加工、退火等工艺，规避残余应力带来的光学畸变等不良问题。

配套专业分析软件，支持检测数据查阅、多组样品比对、检测报告生成归档，方便实验资料留存管理。设备兼顾高精度、可集成性与连续作业稳定性，为低位相差光学材料，提供实验室与产线两用的双折射评估解决方案。