日本 Photonic超宽幅二维双折射应力检测仪
超宽幅二维双折射应力检测仪 WPA‑200‑XL，超大视场成像，快速完成超大尺寸光学件双折射应力检测。

日本 Photonic超宽幅二维双折射应力检测仪

日本 Photonic超宽幅二维双折射应力检测仪

WPA‑200‑XL 超宽幅二维双折射应力检测仪，是 WPA‑200 系列超大视场版本机型，适配大尺寸光学工件检测需求，搭载成熟的多波长检测技术，有效改善大位相差样品测量时的数据折返问题，保障检测结果准确可靠。

设备具备超大观测视场，无需移动样品扫描，单次成像就可采集大面积样品完整区域，输出相位差、光轴角度二维分布云图，省去逐点扫描耗时，大幅提升超大尺寸样品检测效率。高灵敏度传感组件，既可以完整呈现样品全域应力分布，也能够捕捉局部微弱的双折射变化，精准识别应力集中与异常点位。

整机机械底座刚性强，升降调节行程充足，兼容各类厚度规格样品，可按需更换镜头组件调整观测范围。设备操作简单，样品放置到位即可开展检测，前期调试工作量少，既满足实验室中大尺寸试样的研发对比测试，也适配工厂产线的批量抽检工作。可视化应力云图输出，可直观展示材料内部应力分布情况，方便工作人员快速识别各类工艺缺陷。

适合超大尺寸光学薄膜、大口径光学板材、大型注塑光学件、大规格 AR/VR 光学组件、宽幅透明高分子材料等样品。可完成来料质量筛查、成型工艺验证、退火工艺效果比对、成品品质判定。量化残余应力数据，帮助技术人员优化注塑、热成型等加工工艺，减少残余应力带来的光学畸变、透光异常等产品不良。

配套专业分析软件，支持检测数据查阅、多组测试结果比对、检测报告生成归档，便于实验资料统一管理。设备兼顾检测精度与运行稳定性，为超大尺寸光学材料的双折射与残余应力评估，提供稳定高效的检测方案