日本Photonic台式线扫描双折射测绘系统 台式线扫描双折射测绘系统 KAMAKIRI‑X‑Stage，离线取样检测，算法与产线机型同源，可升级为在线 STS‑LS 设备。

日本Photonic动态试样双折射测试系统 动态试样双折射测试系统 KAMAKIRI‑MEM‑AS，可对接拉伸机挤出设备，捕捉挤出、拉伸过程动态双折射变化

日本Photonic卷膜在线全幅双折射检测系统 卷膜在线全幅双折射检测系统 KAMAKIRI‑STS‑LS，产线在线式，实现薄膜整卷全长全宽相位差、取向角实时全域检测。

日本Photonic超高速菲索干涉仪 超高速菲索干涉仪 DELTAPH，单帧采集干涉条纹，实现动态形变、振动瞬态波前相位检测。

日本Photonic百万帧级高速偏振成像相机 百万帧级高速偏振成像相机 CRYSTA Nova S16，超高帧率，捕捉冲击、注塑充模等极短时动态双折射变化

日本Photonic高速动态偏振成像相机 高速动态偏振成像相机 CRYSTA‑PI‑5WP，高速时序采集，捕捉材料瞬态应力变化，实现动态双折射可视化。

日本Photonic光谱型穆勒矩阵偏振测试仪 光谱型穆勒矩阵偏振测试仪 Sci‑Ral，宽光谱扫描，可测相位差色散、穆勒矩阵，解析材料全波段偏振特性。

日本PhotonicVR 镜头偏振评估系统 Pancake VR 镜头偏振评估系统 VRG‑100，RGB 三色检测，可测带偏振片光学组件，评估 VR 镜头偏振性能。

Photonic近红外三波长二维双折射评估仪 近红外三波长二维双折射评估仪 WPA‑200‑NIR，近红外三波长，可测大位相差红外光学元件应力双折射。

日本 Photonic近红外波段双折射评估仪 近红外波段双折射评估仪 PA‑300‑NIR，850nm 近红外波长，检测可见光不透过的红外光学元件双折射应力