日本 Photonic大视场相位差双折射评估仪
大视场相位差双折射评估仪 PA‑300‑L，大视场成像，快速采集大尺寸样品相位差与应力分布数据。

日本 Photonic大视场相位差双折射评估仪

日本 Photonic大视场相位差双折射评估仪

PA‑300‑L 大视场相位差双折射评估仪，为 PA‑300 系列大视场版本，针对大尺寸透明光学样品检测需求设计，采用偏振成像检测原理，无需逐点扫描，单次成像即可获取大面积样品相位差、光轴角度完整二维分布云图。

设备拥有宽大观测视场，无需移动样品即可完成大范围区域检测，有效缩减大尺寸样品的检测耗时。传感器灵敏度高，既能够展示样品整体应力分布状态，也可以捕捉局部微弱的双折射变化，精准找到应力集中以及工艺缺陷点位。整机机械底座稳固，升降调节机构运行顺滑，可兼容多种厚度规格样品，可根据实际需求更换镜头调整观测范围。

设备操作简单，样品放置到位即可启动检测，调试步骤少，对操作人员技能要求不高，既满足实验室中大尺寸试样的研发对比测试，也适配工厂产线的成品抽检工作。检测输出直观的可视化应力云图，工作人员可以直接观察材料内部残余应力分布，快速判断样品品质情况。

设备适用于大尺寸光学薄膜、大口径树脂镜片、注塑光学板材、AR/VR 光学组件、宽幅透明高分子板材等工件。可用于来料品质核查、成型工艺验证、退火效果比对、成品质量判定。通过量化残余应力数据，帮助技术人员优化注塑、热加工等工艺，减少残余应力造成的光学畸变、透光异常等产品不良。

配套专业分析软件，支持检测数据查阅、多组样品测试结果比对、检测报告生成归档，便于实验资料统一留存管理。设备兼顾检测精度与运行稳定性，为大尺寸光学材料的双折射和残余应力评估，提供高效可靠的检测方案。