日本 Photonic相位差双折射评估仪
相位差双折射评估仪 PA‑300，偏振成像检测，快速获取样品相位差、光轴角度应力分布数据。

日本 Photonic相位差双折射评估仪

日本 Photonic相位差双折射评估仪

PA‑300 相位差双折射评估仪，面向光学材料应力检测研发场景打造，采用偏振成像检测原理，无需逐点扫描，一次成像即可输出被测区域相位差、光轴角度二维分布云图，快速完成透明材料双折射检测工作。

设备拥有良好的检测灵敏度，能够捕捉样品内部微弱的应力变化，精准识别应力集中位置。整机结构稳定，升降调节机构调节顺畅，可适配不同厚度的被测样品。设备调试简单，样品放置完成就可以开展检测，上手门槛低，兼顾实验室研发分析以及产线品质抽检场景。检测输出可视化应力云图，直观展示材料内部残余应力分布，帮助工作人员快速定位工艺缺陷。

该设备适配光学树脂镜片、光学薄膜、注塑光学元件、透明高分子材料、改性玻璃等多种类型样品。可开展来料检验、成型工艺验证、退火效果对比、成品质量判定等工作。依托量化的应力检测数据，技术人员可以优化注塑、热成型、退火等工艺参数，改善由残余应力引发的光学畸变、成像异常等产品问题。

配套专业分析软件，支持检测数据查看、多组测试样品比对、检测报告生成归档，便于实验资料整理留存。设备整体体积紧凑，占用工位空间不大，测量性能稳定，可长期持续开展测试工作。

PA‑300 相位差双折射评估仪，可为各类透明光学材料，提供便捷可靠的双折射与残余应力检测手段，帮助企业把控光学产品品质，支撑产品工艺迭代升级。