日本 Photonic显微式微区双折射评估仪
显微式微区双折射评估仪 PA‑micro，显微微区检测，采集微小试样局部相位差与应力分布数据。

日本 Photonic显微式微区双折射评估仪

日本 Photonic显微式微区双折射评估仪

PA‑micro 显微式微区双折射评估仪，专为微小元件、局部微区应力检测打造，搭载显微成像光路，针对小范围样品做高精度双折射检测，无需逐点扫描，单次成像即可输出微区相位差、光轴角度二维分布云图。

设备依托显微光学结构，聚焦样品局部微小区域，能够捕捉微米级微弱双折射信号，还原细微位置的应力变化，规避大面积检测带来的数据平均化问题，精准定位微区应力集中以及微小工艺缺陷。检测速度快，数秒完成一组成像测试，提升微区试样检测效率。整机结构紧凑，升降调节机构精度高，适配薄片、微型元器件等多种厚度微小试样。设备调试简单，样品摆放完成即可开展测试，主要面向实验室精密研发分析场景。

检测生成可视化应力云图，直观呈现微观区域应力分布，为工艺研发提供量化的微观检测数据。适合对局部缺陷、微小结构开展分析，看清普通设备无法识别的细微应力异常。

广泛适配微型光学镜片、精密注塑小件、光纤组件、微型玻璃元器件、半导体透明构件等样品。可开展来料微观品质评估、微结构成型工艺验证、退火效果微观比对、成品局部缺陷解析。工作人员可依据检测数据优化微注塑、精密热加工等工艺，改善微小器件因局部残余应力引发的各类光学不良。

配套专用分析软件，支持微区检测数据查看、多组样品对比、检测报告生成归档，便于科研实验资料整理留存。设备兼顾显微观测能力与检测稳定性，为微小光学构件的双折射与残余应力微观评估，提供专业可靠的检测解决方案。