日本 Photonic适配第三方显微镜微区检测头
适配第三方显微镜微区检测头 PA‑micro‑S，低位相差微区测量，可对接现有显微镜实现双折射检测。

日本 Photonic适配第三方显微镜微区检测头

日本 Photonic适配第三方显微镜微区检测头

PA‑micro‑S 属于 PA 系列分体式显微检测机头，不含显微镜本体，可对接用户现有合规显微镜设备，实现低位相差样品的微区双折射与相位差检测，适合已有显微镜设备的实验室升级改造使用株式会社フ...。

设备搭载 500 万像素高分辨率传感单元，测量范围 0‑130nm，针对低位相差样品优化，无需逐点扫描，一次成像即可输出微区相位差、光轴角度二维分布云图，数秒即可完成单次测量，高效获取微小区域的双折射数据株式会社フ...。可以捕捉样品内部微弱的应力信号，精准识别微米尺度下的局部应力集中与细微工艺缺陷，规避大面积检测带来的数据平均化问题。

设备为独立检测机头形式，无需购置整套显微镜，直接匹配用户现有的主流品牌显微镜，更换不同倍率物镜即可灵活调整观测视场。设备调试简单，完成机头对接之后，放置样品即可开展测试，充分复用实验室已有硬件资源，降低设备投入成本。检测输出可视化应力云图，直观展示微观区域应力分布状态，为工艺研究提供量化检测依据。

多用于微型光学元件、晶体试样、光纤组件、半导体透明构件、精密注塑微型件等低位相差微小样品。可开展微观来料品质评估、微结构成型工艺验证、退火效果微观比对、局部缺陷解析工作。依托检测得到的量化数据，技术人员可以优化微注塑、精密热加工等工艺，改善微小器件因残余应力带来的光学不良问题。

配套专业分析软件，支持微区检测数据查看、多组样品对比、检测报告生成归档，方便科研数据整理留存。该检测机头兼顾测量精度与使用灵活性，为已有显微镜设备的用户，提供高性价比的微区双折射评估解决方案。