日本 Photonic显微型双折射应力分析仪
显微型双折射应力分析仪 WPA‑micro，显微小视场检测，获取微小样品局部双折射应力分布数据。

日本 Photonic显微型双折射应力分析仪

日本 Photonic显微型双折射应力分析仪

WPA‑micro 显微型双折射应力分析仪，专为微小尺寸样品、局部微区应力检测开发，采用偏振成像检测原理，聚焦微观区域双折射分析，一次成像即可输出微区相位差、光轴角度二维分布云图。

设备搭载显微观测光路，可实现小范围高精度检测，捕捉微米级别微弱的双折射变化，精准观察样品局部细微应力特征。无需逐点扫描，数秒即可完成单次检测，有效提升微区样品的测试效率。整机结构紧凑稳固，升降调节机构精度高，适配薄片、小型元器件等多种厚度微小试样。设备调试简单，样品摆放完成即可启动测试，适合实验室精密研发分析使用。

检测输出可视化云图，直观展示微区内部应力分布，快速定位微小范围的应力集中、工艺缺陷，为微观层面的工艺分析提供量化数据支撑。针对小尺寸光学元件，可避开大面积检测的平均化效应，真实还原局部位置的双折射状态。

广泛适用于微型光学镜片、光学元器件、精密注塑小件、光纤相关组件、微型玻璃元件、半导体透明构件等样品。可用于来料微观品质评估、微结构成型工艺验证、退火效果微观比对、成品局部缺陷分析。技术人员依托检测数据，优化微注塑、精密热加工等工艺，改善微小器件因局部残余应力引发的光学缺陷。

配套专用分析软件，支持微区数据查看、多组样品对比、检测报告生成归档，便于科研数据留存整理。设备兼顾显微观测能力与检测精度，为微小光学构件的双折射与残余应力微观评估，提供专业可靠的检测解决方案。