日本Photonic卷膜在线全幅双折射检测系统
卷膜在线全幅双折射检测系统 KAMAKIRI‑STS‑LS，产线在线式，实现薄膜整卷全长全宽相位差、取向角实时全域检测。

日本Photonic卷膜在线全幅双折射检测系统

日本Photonic卷膜在线全幅双折射检测系统

KAMAKIRI‑STS‑LS 是面向光学薄膜卷材产线的在线式双折射全域检测设备，可对接薄膜涂布、拉伸产线，对运动状态下的薄膜完成全长全宽不间断检测，解决传统单点取样检测漏检缺陷的痛点，助力产线品质管控与工艺优化。

系统采用多相机拼接架构，可根据产线实际膜宽配置多组偏振成像单元，拼接形成完整检测幅面，跟随薄膜走料连续采集，实时输出相位差、快慢轴方位角二维分布云图，支持最高 30m/min 走料速度，相位差重复精度小于 1nm，可识别条纹状不均、局部应力斑点、周期性光学畸变等各类缺陷。设备支持实时画面可视化显示，同步输出幅宽方向、走料方向趋势曲线图，出现异常时触发 OK/NG 报警提示，现场人员可第一时间发现产线异常。可接入产线裁切信号，按生产批次自动分割保存数据，记录时间戳，便于不良位置溯源定位株式会社フ...。

整机为龙门框架式结构，适配工厂产线现场安装，膜宽可按需定制拓展，复用产线原有走膜机构，调试完成后即可连续在线检测，无需取样离线测试。既可以用于量产产线全卷品质监控，也可用于产线工艺调试评估，完整记录整卷薄膜的偏振分布数据。输出彩色可视化应力云图，直观展示薄膜全域取向分布，为工艺人员提供完整量化检测依据。

多用于 TAC、COC、PI、PET、PVA 相位差膜、偏振片基材、显示基板等各类光学卷材。可开展产线在线全卷品质筛查、拉伸 / 涂布工艺验证、批量成品缺陷溯源。依托完整的全域相位差数据，技术人员优化拉伸、热定型、涂布等工艺，减少因取向不均带来的色偏、对比度下降等显示不良问题。

配套专业分析软件，支持实时监测画面查看、批量卷料数据比对、缺陷位置标记、检测报告生成归档，方便生产数据留存管理。该在线检测系统兼顾高速走料适配能力与全域成像能力，为光学薄膜卷材，提供产线端全幅全长度的双折射评估解决方案。