日本Photonic光谱型穆勒矩阵偏振测试仪
光谱型穆勒矩阵偏振测试仪 Sci‑Ral，宽光谱扫描，可测相位差色散、穆勒矩阵，解析材料全波段偏振特性。

日本Photonic光谱型穆勒矩阵偏振测试仪

日本Photonic光谱型穆勒矩阵偏振测试仪

Sci‑Ral 光谱型穆勒矩阵偏振测试仪，属于光谱扫描式偏振检测设备，区别于成像型设备，重点完成光谱维度偏振参数测量，覆盖 400‑800nm 可见光区间，光谱分辨率可达 2nm，用于解析光学材料随波长变化的偏振色散特性株式会社フ...。

设备可以获取斯托克斯矢量、穆勒矩阵全套参数，可测量相位差、快慢轴方位角、R0/Rth、椭圆率、旋光性、二向色性、退偏度等多项指标，支持最高上万 nm 超大相位差样品解析，适配大位相差波片与光学薄膜测试工作。单次测量耗时 6‑30 秒，完成全波段光谱数据采集，输出相位差随波长变化曲线，直观反映材料色散表现。设备为分体台式结构，样品台调节灵活，兼容薄片、板材、光学元件等多种试样。

设备操作流程简洁，样品安放完成后即可启动光谱扫描，无需复杂调试，主要面向实验室研发评测，适合光学材料基础研究、波片选型验证、光学膜材开发工作。输出完整光谱曲线数据，可直观判断波片有效工作波段，识别不同波长下相位差偏移问题，为材料配方、制膜工艺优化提供量化光谱数据支撑。

适用于相位差薄膜、各类波片、显示光学基材、晶体材料、高分子光学板材等样品。可开展来料光谱偏振评测、膜材工艺研发验证、波片波长适配确认、新材料偏振特性解析。依靠全波段的测试数据，帮助研发人员优化制膜、拉伸、热处理等工艺，改善产品不同波长下的相位差偏差，解决器件色偏、偏振性能衰减等问题。

配套专业分析软件，支持光谱曲线查看、多组样品数据比对、数据导出及检测报告生成归档，便于科研资料整理留存。设备兼顾光谱分辨率与参数拓展能力，为光学材料开展全波段偏振与双折射光谱评估，提供专业可靠的检测解决方案。