Photonic近红外三波长二维双折射评估仪
近红外三波长二维双折射评估仪 WPA‑200‑NIR，近红外三波长，可测大位相差红外光学元件应力双折射。

 Photonic近红外三波长二维双折射评估仪

 Photonic近红外三波长二维双折射评估仪

WPA‑200‑NIR 近红外三波长二维双折射评估仪，属于 WPA‑200 系列近红外专用机型，采用 810nm、850nm、880nm 三组近红外波长开展检测，依托三波长算法，测量范围可达 0‑3500nm，适配大位相差的红外透光工件，解决可见光无法穿透材料的双折射检测难题株式会社フ...。

设备无需逐点扫描，单次成像即可输出相位差、光轴角度完整二维分布云图，数秒完成全域检测。三波长测量方案规避大位相差样品的数据折返问题，保证大相位差条件下测量结果真实可靠。传感器可捕捉样品内部应力变化，既能获取样品整体应力分布，也可以识别局部应力集中点位。整机底座稳固，升降调节机构运行平顺，兼容多种厚度规格样品，可更换镜头灵活调整观测视场。

设备操作简单，样品放置到位即可启动测试，调试工作量小，既适用于实验室红外光学试样研发对比，也可以用于工厂产线成品抽检。输出可视化应力云图，直观展现材料内部残余应力分布，快速定位工艺缺陷，为产品工艺优化提供量化检测数据。

设备多用于车载激光雷达元件、硫系玻璃、红外树脂镜片、红外成像组件等可见光不透过的红外光学工件。可开展来料品质核查、成型工艺验证、退火效果比对、成品品质判定。技术人员依据检测得到的相位差数据，优化注塑、热成型、退火等加工工艺，降低残余应力带来的光学畸变、成像偏差等不良问题。

配套专业分析软件，支持检测数据查阅、多组样品比对、检测报告生成归档，方便实验资料统一留存管理。设备兼顾大位相差测量能力与近红外专属检测能力，为红外光学材料的双折射与残余应力评估，提供稳定高效的检测解决方案。