日本Photonic动态试样双折射测试系统
动态试样双折射测试系统 KAMAKIRI‑MEM‑AS，可对接拉伸机挤出设备，捕捉挤出、拉伸过程动态双折射变化

日本Photonic动态试样双折射测试系统

日本Photonic动态试样双折射测试系统

KAMAKIRI‑MEM‑AS 属于 KAMAKIRI 系列动态测试机型，专门面向材料成型、拉伸等动态过程的二维双折射观测，可对接挤出机、双向拉伸试验机等各类测试设备，捕捉试样受力流动过程中实时相位差与快慢轴角度变化，弥补传统单点测量设备无法记录动态全域分布的短板，主要服务材料研发与工艺评价工作株式会社フ...。

设备测量中心波长 543nm，相位差测量范围 0‑260nm，相位差重复精度优于 ±1nm，快慢轴方位角测量范围 0‑180°，方位角重复精度优于 ±1°，无需机械扫描，单次成像即可输出完整二维分布云图，可实时采集熔体出口、薄膜拉伸过程的瞬时双折射信号，记录应力随时间演变全过程。支持定制专用安装支架，灵活挂载到各类试验机设备上，既可以独立在实验室离线使用，后期也能够改造升级为 MEM‑LS 产线取样机型，拓展线上检测能力。设备支持外触发同步，实现力学信号与偏振图像同步采集，方便把应力、拉力数据和双折射图像一一对应。

设备调试简单，完成对接安装后放置样品即可开展动态测试，输出可视化应力云图，直观展示成型、拉伸过程内部取向分布，为材料机理研究提供量化二维检测依据。

多用于树脂挤出模头出口观测、薄膜双向拉伸试验、高分子熔体流动研究、高分子材料受力形变分析。可开展模口出料动态取向评估、拉伸过程应力演化观测、不同拉伸工艺条件对比、新材料成型机理解析。研发人员依靠动态采集的相位差数据，优化挤出、拉伸工艺参数，改善薄膜取向不均带来的色偏、光学性能波动等产品不良问题。

配套 KAMAKIRI 离线基础分析软件，支持时序图像回放、相位差与方位角数据查看、多组试验对比、检测报告生成归档，方便科研实验数据留存管理。该系统兼顾动态成像能力与升级拓展能力，为高分子材料成型过程，提供专业可靠的动态双折射评估解决方案。