日本 Photonic近红外波段双折射评估仪
近红外波段双折射评估仪 PA‑300‑NIR，850nm 近红外波长，检测可见光不透过的红外光学元件双折射应力

日本 Photonic近红外波段双折射评估仪

日本 Photonic近红外波段双折射评估仪

PA‑300‑NIR 近红外波段双折射评估仪，为 PA‑300 系列近红外专用机型，采用 850nm 近红外测量波长，针对可见光下不透明、但对近红外光通透的特种光学材料开发，实现这类特殊工件的二维双折射与相位差无损检测。

设备搭载 500 万像素偏振成像传感器，无需逐点扫描，数秒即可完成全域成像，直接输出相位差、光轴角度二维分布云图，测量范围 0‑213nm，针对红外光学材料做检测算法优化，可捕捉材料内部微弱的双折射信号，精准识别应力集中区域与工艺缺陷点位株式会社フ...。整机无旋转滤光镜片结构，部件损耗低，后期维护工作量小。底座结构稳固，升降调节机构运行平顺，兼容多种厚度规格样品。

设备操作便捷，样品放置到位即可开展测试，调试步骤少，既满足实验室红外光学试样研发分析，也适配工厂产线成品抽检。输出可视化应力云图，直观展示样品内部残余应力分布，为红外光学器件工艺改良提供量化检测依据。

适配硫系玻璃、激光雷达光学元器件、红外树脂材料、红外镜头、人脸识别光学组件等可见光无法穿透的红外光学工件株式会社フ...。可开展来料品质筛查、成型工艺验证、退火效果比对、成品品质判定。依托检测得到的相位差与应力数据，技术人员可优化热成型、退火等加工工艺，降低残余应力带来的光学畸变、成像偏差等产品不良。

配套专业分析软件，支持检测数据查阅、多组样品比对、检测报告生成归档，方便实验资料统一留存管理。设备兼顾近红外专属检测能力与运行稳定性，为各类红外光学材料的双折射与残余应力评估，提供专业可靠的检测方案。