ADCMT爱德万功率半导体测试平台
ADCMT爱德万功率半导体测试平台
面向系统级芯片的半导体自动测试设备，主要用于芯片研发验证、晶圆测试以及成品量产测试，广泛应用于消费电子、车载、工业控制、射频通信等半导体领域。系统以模块化硬件架构为核心，兼顾研发阶段小批量调试与产线大规模量产，适配多品类混合信号 SoC 芯片测试需求。
该系统采用灵活的插槽式模块化设计，可按需选配数字、模拟、功率、射频等功能板卡，通道规模可灵活调整，最高可支持 8192 个测试通道，风冷、水冷两种散热方案可选，满足不同功耗等级设备运行需求。硬件具备高精度信号采集能力，数字、模拟、电源模块协同工作，可完成逻辑功能、时序参数、电压电流、漏电、射频性能等多项测试，覆盖 MCU、存储芯片、车载 BMS 芯片、射频 SoC 等多类器件测试任务。
系统搭载多站点并行测试技术，支持多颗被测芯片同步检测，消除并行测试带来的额外时间开销，提升产线吞吐量，降低单颗芯片测试成本。多会话架构允许多位工程师同时登录同一台设备独立调试程序，不同功能模块可以并行开发，缩短芯片测试程序开发周期，加快产品上市进度。同时支持顺序测试与并发测试无缝切换，复杂测试任务可拆分同步执行，压缩整体测试时长。
设备兼容性强，可对接探针台、分选机，适配 BGA、QFP 等主流芯片封装，适配 8 英寸、12 英寸晶圆级测试。系统软件生态，支持标准化测试指令，测试程序可复用，芯片迭代更新时仅需调整硬件模块，无需整机更换，降低设备升级投入。
在实际生产中，该系统既可以满足实验室样品验证，也可支撑 24 小时不间断量产，能够稳定输出一致性测试数据，减少误判，保障芯片良率，是国内半导体封测厂、芯片设计企业常用的 SoC 测试平台。
2026-07-23
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