产品中心您现在的位置:首页 > 产品展示 > > ADCMT爱德万 > H5620ESADCMT爱德万半导体长度测量机
ADCMT爱德万半导体长度测量机

更新时间:2026-08-13

简要描述:

ADCMT爱德万半导体长度测量机
E3640"是一款MVM-SEM,能够高精度测量掩模和图案介质中的细微图案尺寸。

型号:H5620ES点击量:10

  免费咨询:15510016038.

  发邮件给我们:2925710229@qq.com

ADCMT爱德万半导体长度测量机

ADCMT爱德万半导体长度测量机


北崎国际贸易(北京)有限公司  代理品牌.

SEN日森,CCS晰写速,NPM日脉,SERIC索莱克,SONIC索尼克,SANKO三高,NEWKON新光,SIBATA柴田,SUGIYAMA杉山电机,TORAY东丽,EBARA荏原,MATSUO松尾,NIKKATO日陶,HEIDON新东科学,JIKCO吉高,OTSUKA大塚电子,ITOH伊藤,EYE岩崎,REVOX莱宝克斯,TOKI东机产业,HAYASHI林时计,OHKURA大仓,ULVAC爱发科,ANALYZER第一热研,NFK南国工业株式会社,kakuhunter写真化学,WATSON沃森,RIYYO理阳,ESSGES宜格斯,ATAGO爱拓,PFERD马圈,TEMTOP乐控,TSUBAKI椿本,美国 MWComponents, THOMAS托马斯

1Xnm节点工艺覆盖的MVM-SEM

随着半导体的微型化,对晶圆和光罩上形成的线路图案尺寸测量和评估的高度准确且稳定的需求日益增长。 E3600 该系列被半导体制造商、光掩膜制造商以及设备和材料制造商广泛采用。

“E3640"是一款MVM-SEM,能够高精度测量掩模和图案介质中的细微图案尺寸。 作为我们广泛支持的“E3600系列"中最新的掩膜SEM市场型号,它显著提升了测量的可重复性和通量,并支持1Xnm节点工艺,预计该工艺将在未来大规模生产中被广泛采用。 除了目前主导半导体光刻的光掩膜外,它还可用于极紫外掩膜和近极光离子模板。


留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7

TEL:15510016038

扫码加微信