ADCMT爱德万多验证器兼容测试系统-不丢失
更新时间:2026-08-13
简要描述:
ADCMT爱德万多验证器兼容测试系统-不丢失该内存测试系统支持非易失性存储器的晶圆测试和晶圆烧录测试,包括NAND闪存。 集成在多探针中,以节省测试地板面积。
型号:T5230点击量:10
ADCMT爱德万多验证器兼容测试系统-不丢失
ADCMT爱德万多验证器兼容测试系统-不丢失
专为各类存储芯片开发,用于存储器件的研发验证、晶圆测试以及成品量产检测,覆盖消费电子、工业、车载等多场景存储芯片测试需求。系统针对存储芯片的读写特性做深度优化,兼顾实验室调试与产线大批量测试,适配多种存储器件。
硬件采用模块化搭建方式,可根据测试对象选配不同功能模组,通道数量可灵活扩展。设备具备高速读写能力,可完成读写速度、存储单元稳定性、漏电、耐久性、数据保存能力等关键项目检测。能够识别存储单元失效、位错误、读写干扰等各类故障问题,可对 NAND Flash、NOR Flash、DRAM 等主流存储芯片开展完整测试。
系统支持多站点并行测试,可同时对多颗芯片执行测试流程,大幅提升测试效率,压缩单颗芯片测试耗时,降低量产阶段的测试成本。支持多种测试模式,可执行压力耐久测试,模拟芯片长期工作环境,验证芯片的使用寿命与数据保存性能,提前筛选存在潜在缺陷的器件。
软件操作界面简洁,测试程序可编辑、可复用,芯片规格迭代时,只需修改测试参数,不用重新搭建整套流程,缩短测试程序开发周期。设备可以对接探针台、分选机,适配晶圆以及多种封装形式的存储芯片,支持晶圆级测试与成品芯片测试。
整套设备运行稳定性高,可长时间连续工作,输出稳定可靠的测试数据,减少误判漏判情况。既适合芯片设计企业做样品分析、失效排查,也可以用于封测工厂大批量生产,帮助企业把控存储芯片品质,筛选不良器件,保障存储产品的可靠性。