日本Photonic短波红外偏振成像相机
0.9‑1.7μm 短波红外，InGaAs 探测器，适合高温透明材料动态双折射检测。

日本Photonic短波红外偏振成像相机

日本Photonic短波红外偏振成像相机

A6261‑PH 采用 InGaAs 铟镓砷探测器，搭配光子晶体偏振传感单元，工作波段 0.9‑1.7μm 短波红外，可穿透部分可见光不透明的高温透明、半透明试样，同步采集红外图像与相位差、取向角二维偏振数据，区别于制冷型中波、长波机型，探测器采用热电制冷，整机体积更小。

设备分辨率 640×512，全分辨率帧率 125fps，裁剪窗口模式最高可达 17000fps，测温区间 400‑1200℃，选配镜头可拓展至 2500℃。支持多款短波红外镜头，根据试样尺寸灵活调整观测视场。具备外触发同步接口，可对接高温挤出台、热拉伸装置，实现力学信号与偏振图像同步记录。标配 SDK 开发包，支持二次开发，既可搭配工控机成套使用，也可以直接搭载在试验机狭小工位。设备无旋转光学部件，不存在制冷机振动干扰，成像稳定性好。

整机机身小巧，重量轻，对实验平台安装空间要求低。热电制冷省去斯特林制冷机，降低后期维护工作量。输出可视化时序云图，直观呈现半透明高温试样内部应力、取向分布，捕捉熔体出口、拉伸区域细微应力变化，为高温透明材料研发提供时序量化数据。

多用于玻璃、高温高分子半透明熔体、陶瓷热态应力研究。可开展高温试样动态应力演化观测、热加工工艺比对、内部缺陷观测。研发人员依靠测得偏振数据，解析受热状态下材料内部取向变化，优化热压、退火工艺，减少成品残余应力带来的形变、开裂。

配套 CRYSTA Phase 基础分析软件，支持时序图像回放、相位差数据导出、多组试验对比、检测报告生成归档，方便实验数据留存整理。该机型依靠短波红外穿透能力，专门针对半透明高温试样，为这类特殊样品的双折射测试提供差异化成像解决方案。