日本 Photonic二维双折射应力分析仪
二维双折射应力分析仪 WPA‑200，高速成像检测，获取样品相位差、光轴角度二维应力分布数据。

日本 Photonic二维双折射应力分析仪

日本 Photonic二维双折射应力分析仪

WPA‑200 二维双折射应力分析仪，用于光学材料双折射与残余应力快速评估，采用偏振成像检测原理，无需逐点扫描，一次拍摄即可得到被测区域完整的应力分布信息。

设备检测速度快，成像效率高，能够输出相位差、光轴角度二维云图，直观呈现材料内部应力分布状态。整机结构紧凑，底座稳固，升降调节机构操作简单，可适配多种厚度规格样品。样品放置完成即可开展测试，调试步骤少，降低操作人员使用门槛，既适用于实验室研发分析，也可用于生产现场品质检测。

依靠光学偏振检测方式，可识别样品内部细微应力变化，快速定位应力集中、工艺缺陷位置。检测不受样品表面纹路干扰，聚焦材料内部真实双折射状态，为工艺改良提供客观量化数据。

设备适配光学塑料、透明薄膜、注塑光学元件、镜片、玻璃制品等多种样品。可用于来料检验、成型工艺对比、退火工艺效果验证、成品质量判定工作。技术人员可依据检测结果，优化注塑、热成型等加工工艺，减少由残余应力造成的光学畸变、成像异常等产品问题。

配套专用分析软件，支持检测数据查看、多组测试结果对比、检测报告生成与数据归档，方便实验资料整理留存。设备兼顾检测精度与运行稳定性，体积小巧，占用空间小，适合工位有限的实验室与产线环境，为各类透明光学材料的应力双折射评估，提供实用可靠的检测方案。