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2026-07-17更新时间:2026-09-03
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日本 Photonic大视场二维应力双折射测试仪
日本 Photonic大视场二维应力双折射测试仪
WPA‑300‑L 大视场二维应力双折射测试仪,是 WPA‑300 系列里面向大尺寸样品的检测机型,依托多波长检测技术,有效规避大位相差样品单波长测量的数据折返问题,保障测量数据真实可靠。
设备核心优势在于大观测视场,无需移动样品扫描作业,单次成像即可完成大范围样品检测,直接输出相位差、光轴角度完整二维分布云图,大幅提升大尺寸工件检测效率。搭载高解析传感单元,既可以捕捉全域整体应力状态,也能够识别材料内部微弱的双折射变化,精准定位细小应力异常区域。
设备底座结构扎实稳定,升降调节机构调节顺畅,可兼容多种厚度的被测样品。操作流程简单,样品摆放完成即可启动检测,既满足实验室的工艺对比、研发分析工作,也适配生产现场的成品抽检,快速完成多批次样品品质筛查。检测输出可视化应力云图,直观展现应力集中、材料形变等各类缺陷位置。
广泛适用于大尺寸光学薄膜、大口径光学镜片、注塑光学板材、AR/VR 光学元器件、透明高分子板材等产品检测。可开展来料质量核查、成型工艺评估、退火效果验证、成品品质判定等工作。量化材料内部残余应力数值,帮助技术人员优化注塑、热加工等工艺参数,降低内应力引发的光学不良问题。
搭配配套分析软件,实现检测数据查阅、多组数据比对、检测报告输出归档,方便实验资料统一留存。设备兼顾测量精度与操作便捷性,为大尺寸光学材料开展双折射与残余应力评估,提供稳定可靠的检测解决方案。