日本 Photonic Lattice二维双折射评估系统
WPA‑300 系列二维双折射评估系统，多波长检测，高分辨率，获取材料二维应力双折射分布数据

日本 Photonic Lattice二维双折射评估系统

日本 Photonic Lattice二维双折射评估系统

WPA‑300 系列二维双折射评估系统，面向大位相差样品检测场景打造，在保留大相位差测量能力的基础上，传感器分辨率相比上代提升最高 5 倍，能够捕捉相位差的细微变化，输出更加清晰准确的二维面分布数据株式会社フ...。

设备采用多波长检测技术，可完成大位相差样品的双折射测量，规避单波长测量的数据折返问题，适合塑料镜片、光学薄膜、高分子材料等存在较大应力的工件检测工作株式会社フ...。无需逐点扫描，一次成像即可得到被测区域完整相位差、光轴角度全域分布云图，大幅降低检测耗时，兼顾实验室研发分析与产线品质抽检需求。

整机结构稳固，搭载可调升降工作台，可适配不同厚度规格样品，更换对应镜头还可灵活调整观测视场，兼顾微观局部观测与大面积样品整体扫描。系统输出可视化应力云图，直观呈现材料内部残余应力分布状态，帮助工作人员快速定位应力集中、工艺缺陷位置。

广泛应用于 AR/VR 光学镜片、光学塑料、透明高分子薄膜、注塑光学元件、改性玻璃等行业。可用于来料检验、成型工艺验证、热处理前后对比、成品质量判定，量化材料内部应力水平，辅助研发人员优化成型、退火等工艺参数，把控产品光学品质。

配套专业分析软件，可完成数据导出、对比分析、报告生成，方便实验数据归档。兼顾高精度与易用性，为光学材料应力双折射评估提供可靠的检测解决方案。