2026-07-082026-07-152026-07-162026-07-102026-07-162026-07-112026-07-082026-07-072026-07-022026-07-17更新时间：2026-07-22
免费咨询：15510016038.
OTSUKA大塚电子智能薄膜测厚仪
OTSUKA大塚电子智能薄膜测厚仪
“便携式"，仅1.1公斤，轻便便携
“高精度测量与简易测量" 可测量至0.1微米的薄度，无需校准曲线
“兼容多层薄膜"——能够测量多达3层多层薄膜
“无损非接触式测量"允许测量而不损坏样品
“测量各种样品"——无论基材（玻璃还是塑料）都可以测量
（1）小型光谱仪
（2）紧凑型白光源
（3）设备内置
计算机。之前分析是在电脑上进行的，但......
分析
显示
运营
通过触摸面板启用！
（4） 电池操作
（5）参考镜
（6） 可更换探头
优点
你可以带它去以前无法到达的地方！
推理
光谱仪微型化、电池丑闻等
第一场：商务旅行目的地
第二场：生产线
第三场：无法移动的东西
优点
不需要专业知识或操作培训！
理由（1）无需组装，开启即可立即使用
理由（2）只需将探针放在样品上即可测量
理由（3）通过触摸面板直观操作
优点
0.1微米增量的精确测量
推理
它采用光谱干涉法
原理测量基板上的膜层厚度
来自上方
的入射光会反射到薄膜表面
·穿过薄膜的光线会反射到基板或薄膜界面
测量由
光程差引起的相位差引起的光学干涉现象
根据获得的反射光谱和折射率计算胶片厚度
优点
（1）能测量大样本
，（2）可无损测量
，（3）能测量各种形状的样品
推理
因为这是一个需要用探针测量的测量，
即使它太大，装不下
传统桌面设备，也没关系。
没必要提起
不需要像捏或按住那样施加压力
优点
（1）能测量各种形状的样品
，（2）可以测量大型样品
，（3）可以测量无损样品
原因
你可以更换探针以匹配样品。
探针（1）：标准探针
用于平面样品
（例如）薄膜，简单形状
探针（2）：笔型探针选项
用于面积或形状狭窄的样品
（例如）薄膜，简单形状
探针（3）：非接触阶段选项
用于你不想接触的样本
（例如）湿膜、半导体晶圆
发邮件给我们：hsy@kitazaki.cn