2026-07-062026-07-062026-07-132026-07-222026-07-212026-07-062026-07-022026-07-222026-07-022026-07-07更新时间：2026-07-22
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OTSUKA大塚电子胶片厚度监视器
OTSUKA大塚电子胶片厚度监视器
体积紧凑、成本低且操作简便，用于测量胶片厚度
通过选择光谱仪和光源，可选择胶片厚度范围
条件设置和测量操作简单。 任何人都能轻松测量
配备实时监控和仿真功能
其测量斑点直径为φ1.2毫米，支持
从3nm~35μm薄膜到厚薄膜的广泛测量。
绝对反射率测量
薄膜厚度分析（10层）
光学常数分析（n：折射率，k：衰变计数）
功能性薄膜、塑料
透明导电薄膜（ITO、银纳米线）、相位对比薄膜、偏振薄膜、增强现实薄膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、粘合剂、粘合剂、保护薄膜、硬涂层、指纹防护剂等。
半导体：
化合物半导体、硅、氧化膜、氮化物薄膜、抗蚀剂、硅化碳、砷化镓、镓镓、InP、镰铀、镰酸、铀铵、铵铀、铵铀、铵晶、蓝宝石等。
表面处理：
DLC涂层、防锈剂、防雾剂等。
光学材料：
滤光片、AR涂层等。
FPD
LCD（CF、ITO、LC、PI）、OLED（有机胶片、密封剂）等。
其他的有硬盘
、磁带、建筑材料等。
| 测量波长范围 | 300~800纳米 | |
| 测量薄膜厚度范围 （SiO）2转换） | 3nm~35μm | |
| 点状路径 | φ1.2毫米 | |
| 样本量 | φ200×5（H）mm | |
| 测量时间 | 0.1~10秒以内 | |
| 电源 | AC100V±10% 300VA | |
| 尺寸与重量 | 280（W）×570（D）×350（H）mm、24kg | |
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