Mettler梅特勒电子天平-耐温稳 电子天平 XPR106DUH/AC XPR 分析天平通过智能质量保证功能的 StaticDetect™技术实现一次性准确结果。可选的计量自动化和 LabX 兼容性提高了流程效率，支持法规遵从。

Mettler梅特勒电子天平-除静电 电子天平 XPR36/AC XPR 微分分析天平可直接计量受控静电荷的极小样品（StaticDetect™）。它们确保准确的结果，最小称量至 1.2 毫克，节省昂贵的样品，并通过 LabX 软件支持数据完整性。

Mettler梅特勒电子天平-高精度 电子天平 XPR105/AC XPR 分析天平通过智能质量保证功能的 StaticDetect™技术实现一次性准确结果。可选的计量自动化和 LabX 兼容性提高了流程效率，支持法规遵从。

Mettler梅特勒电子天平-微量级 XPR 微量天平，适配微量珍贵样品称量，可放置于安全柜内使用；机身紧凑，免触操作，易清洁；支持用户操作指引、数据直传，安全性与作业效率高；称重传感器精度优异，可读性 1μg，最小称量值低，微量称量准确度高。

Mettler梅特勒电子天平-稳质控 taticDetect™静电消除技术，称量结果一次性精准；支持选配计量自动化组件，兼容 LabX 软件，满足法规合规追溯。集成 StatusLight™状态指示灯、LevelControl 水平监控、GWP 合规称量体系，多重协同保障称量工况稳定。

Mettler梅特勒电子天平-抗静电 StaticDetect™静电消除技术，称量结果精准稳定；可选自动投料模块，兼容 LabX 数据管理软件，满足行业法规追溯审核要求；称量单元高温稳定性强，最小称量值低，适合微量珍贵样品称量。

Mettler梅特勒电子天平-微量样品用 双量程半微量分析天平，量程 81/220g，可读性 0.01/0.1mg，微量样品称量专用机型。

Mettler梅特勒电子天平-电动防风罩 单量程标准分析天平，量程 220g，可读性 0.1mg；E 代表全自动电动防风罩，AC 为 LabX 配套版本

Mettler梅特勒电子天平-数据对接 双量程分析天平，量程 81/120g，可读性 0.1/1mg；支持网络数据对接、称量记录留存。

Mettler梅特勒电子天平-半微量 双量程半微量天平，量程 41/120g，可读性 0.01/0.1mg；带电动防风门，预装 LabX 软件授权。