透明基板检测项目落地，大塚电子获得客户认可

近期，北崎国际贸易（北京）有限公司作为大塚电子华北地区重要合作伙伴，在服务国内某显示面板企业的过程中，成功协助其完成了透明基板检测方案的部署。该企业引入大塚电子OPTM系列显微分光膜厚仪后，实现了对玻璃基板上透明功能薄膜的非破坏性精准测量，检测数据的一致性与重复性获得客户认可。

透明基板检测的测量难点

该企业主要从事显示面板及触控模组的生产制造，在ITO导电膜、光阻层及配向膜等工序中，薄膜厚度的精准控制直接影响产品光学性能与电学特性。然而，透明基板上的薄膜测量长期面临一个共性难题：玻璃基板背面反射会与薄膜表面反射光相互干涉，导致普通分光膜厚仪无法获取真实的膜厚数据。

此前该企业采用接触式台阶仪进行抽检，需对样品进行刻蚀处理，属于破坏性检测，无法对同一基板进行重复观测。且台阶仪测量效率较低，难以匹配产线抽检节拍。企业亟需一套兼具非破坏性与测量精度的光学量测方案。

OPTM系列如何解决透明基板测量难题？

针对上述痛点，北崎国际贸易向该企业推荐了大塚电子OPTM系列显微分光膜厚仪。该设备采用显微绝对反射分光法，搭载大塚电子技术（第5172203号），可物理去除透明基板背面反射干扰，确保玻璃基板上薄膜数据的真实可靠。

微区测量适配像素级检测：设备最小测量光斑可达φ3μm，能够精准定位显示面板上的RGB像素区域或触控传感器的微小图案，避免周边结构对测量信号的干扰。

多层膜解析能力：OPTM系列支持最多50层复合膜结构运算求解，可同时输出膜厚、折射率n及消光系数k，满足ITO膜、光阻层及配向膜等多层结构的表征需求。

高速测量匹配产线节拍：单点对焦与测量在1秒内完成，配合自动XY载台可实现整片基板的自动Mapping测量，输出膜厚分布云图。

应用效果

该企业在关键工序部署OPTM系列后，实现了对玻璃基板上透明功能薄膜的非破坏性快速检测。背面反射干扰被有效消除，测量数据的一致性与重复性明显改善。设备的最小光斑能力适配了显示面板的像素级检测需求，单点测量时间控制在1秒以内。该企业已将OPTM系列纳入透明基板检测的标准流程。

北崎国际贸易（北京）有限公司作为大塚电子华北地区重要合作伙伴，为显示面板、触控模组及光学薄膜企业提供从设备选型、应用方案设计到售后保障的本地化服务，助力透明基板检测实现精准高效的质量管控。