Nikon尼康 测量支架
适用于微小精密工件精细化检测，支持精准对位的高精度尺寸测量。

Nikon尼康 测量支架

Nikon尼康 测量支架

微调对位型精密测量支架 MS-51C 是尼康 DIGIMICRO 系列的精细化检测款测量台，配备精密微调机构，可实现工件的精准对位，面向微小、精密工件的精细化检测场景。

精密微调对位机构

支架配备高精度微调平台，可实现工件的多维度精细调节，精准对准检测点位，尤其适合微小工件、特定点位的尺寸检测，解决了普通支架难以精准对位微小检测区域的痛点。微调机构手感顺滑，调节精度高，可实现微米级的位置调整，保障检测点位的准确性。

基准与刚性性能

基准台面采用高刚性高精度材质，平面度优异，基准稳定可靠。整体结构稳固，抗震动能力强，微调过程中无偏移晃动，保障微调对位后的检测精度稳定，适合精细化检测的严苛要求。

测头适配与操作

测头安装接口兼容尼康主流测量头，尤其适配 MH-15M 等小量程高精度测头，可组合成超高精度微尺寸检测系统。升降调节与微调操作分区设计，操作逻辑清晰，检测人员可快速完成工件对位与检测，提升微小工件的检测效率与准确性。

精细化应用场景

广泛应用于半导体元器件、精密钟表零件、光学元件、微型五金等行业的微小工件尺寸检测，适合需要精准定位检测点位的精细化品控与研发检测场景，是精密制造领域微尺寸检测的重要配套设备。