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Nikon尼康15mm 微尺寸微调高精度测微系统

更新时间:2026-10-21

简要描述:

Nikon尼康15mm 微尺寸微调高精度测微系统
适用于微型精密工件超高精度检测,支持精准对位的微尺寸测量。

型号:MH-15M+TC-200+MS-51C点击量:1

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Nikon尼康15mm 微尺寸微调高精度测微系统

Nikon尼康15mm 微尺寸微调高精度测微系统

15mm 微尺寸微调高精度测微系统由 MH-15M 小量程高精度测量头、TC-200 外置计数器与 MS-51C 微调对位支架组成,是 DIGIMICRO 系列的超高精度成套方案,面向微型、精密工件的精细化检测。

超高精度检测性能

MH-15M 测量头聚焦 0~15mm 小量程,实现更高的测量分辨力与重复性,可精准捕捉亚微米级的尺寸差异,满足微型零件的精度检测需求。测量作用力轻柔,可避免检测过程中对精密软质、微型工件造成形变损伤,兼顾检测精度与工件防护。检测数据经过原厂精密校准,准确性与稳定性优异,可有效识别微型工件的细微尺寸偏差,为精密制造的品控提供可靠数据支撑。

微调对位精准检测

MS-51C 支架配备高精度微调平台,可实现工件的多维度精细调节,精准对准微小检测点位,解决了普通支架难以精准对位微小检测区域的痛点。微调机构手感顺滑,调节精度高,可实现微米级的位置调整,保障微小工件检测点位的准确性。整体结构稳固,抗震动能力强,微调过程中无偏移晃动,保障微调对位后的检测精度稳定,适配精细化检测的严苛要求。

外置操作与数据管理

搭配 TC-200 外置计数器,可灵活放置在操作顺手位置,微调对位与读数操作分区进行,流程更顺畅,适合高精度精细化检测场景。计数器支持细微公差设置与合格判定,可完成微型工件的高精度尺寸筛查。系统支持数据输出至电脑端,可接入精密制造品质管理体系,完成检测数据追溯与工艺制程优化。

适用场景

广泛应用于半导体元器件、精密钟表零件、光学元件、微型五金等行业的微小工件超高精度尺寸检测,是精密制造领域微尺寸精细化检测的专属成套方案。


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