Nikon尼康 50mm 大行程升降测微系统
适用于较高尺寸工件检测，满足高轮廓零部件高度阶差精密测量需求。

Nikon尼康 50mm 大行程升降测微系统

Nikon尼康 50mm 大行程升降测微系统

50mm 大行程升降测微系统由 MF-501 测量头、MFC-200 机头计数器与 MS-22S 大行程测量支架组成，搭载加长升降支架，可容纳更高尺寸的工件，拓展竖向检测空间。

检测性能与量程

系统测量头量程覆盖 0~50mm，搭配 MS-22S 的大升降行程，整体可适配更高尺寸的工件，解决标准支架升降空间不足、无法容纳高工件的痛点。测量精度保持尼康原厂微米级水准，即使在升降高位，检测数据依然稳定可靠，可精准完成高工件的高度、段差、深度等尺寸检测。升降机构采用高精度导向结构，升降过程平稳顺畅，测头无偏移晃动，保障全升降区间的检测一致性。

大行程结构优势

MS-22S 支架采用加重高刚性底座，重心低、放置稳固，可有效减少高工件检测过程中的震动影响，保障检测稳定性。基准台面平面度优异，材质耐磨抗形变，长期承载高工件也不会出现基准面损伤，保持长期精度可靠性。升降调节操作顺畅省力，可快速完成测头高度调整，适配不同高度工件的快速切换检测，提升多品类工件的检测效率。

操作与适配性

机头直装计数器布局紧凑，读数操作便捷，支持公差预设与合格判定，现场即可快速完成工件尺寸筛查。测头安装接口标准通用，企业原有尼康测量头可直接适配，无需额外购置新测头，降低升级成本。

行业应用

主要服务于机械加工、汽车零部件、立式模具等行业的高尺寸工件检测，适合需要检测较高工件高度、深度、阶差的场景，是标准量程系统的有效升级方案。