Nikon尼康 100mm 大行程升降测微系统
适用于超高尺寸工件检测，兼顾大量程测头与大升降支架的竖向检测。

Nikon尼康 100mm 大行程升降测微系统

Nikon尼康 100mm 大行程升降测微系统

100mm 大行程升降测微系统由 MF-1001 大量程测量头、MFC-200 机头计数器与 MS-22S 大行程支架组成，双维度拓展竖向检测空间，适配超高、大尺寸工件的精密检测需求。

双维度大空间检测

系统测量头自身量程覆盖 0~100mm，搭配 MS-22S 的大升降行程，整体竖向检测空间大幅提升，可容纳超高尺寸的工件，解决普通系统无法适配的高轮廓大工件检测痛点。在全量程与全升降区间内，均保持稳定的微米级检测精度，数据重复性优异，可精准完成超高工件的高度、阶差、深度等多类尺寸检测。升降机构采用高精度导向结构，升降平稳顺畅，测头无偏移晃动，保障高位检测的准确性与一致性。

高刚性稳固结构

MS-22S 支架采用加重高刚性底座，重心低、放置稳固，可有效降低高工件检测过程中的震动干扰。基准台面耐磨抗形变，长期承载大尺寸工件也能保持基准精度，适配工业车间的高频次使用场景。升降调节操作省力顺畅，可快速调整测头高度，适配不同尺寸工件的快速切换检测，提升多品类大工件的检测效率。

操作与扩展优势

机头直装计数器布局紧凑，读数操作便捷，支持公差预设与合格判定，现场即可快速完成工件尺寸筛查。系统接口标准通用，后续可根据需求升级更换更高规格支架或测头，灵活适配企业不断升级的检测需求。

适用场景

主要面向大型机械结构件、立式工装、高轮廓模具等行业的超高尺寸工件检测，是需要大竖向检测空间场景的专属成套检测方案。