OSI王子计测分子取向计
1. 非接触式和无损测量
2. 无论透明与不透明都能测量
3. 全自动且高精度
4. 测量复介电常数（介电坚度，介电损耗率）

Name: OSI王子计测分子取向计MOA-8000
Brand: 王子计测/OSI
Availability: InStock

型号：MOA-8000点击量：4

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OSI王子计测分子取向计

MOA‑8000 系列分子取向计，采用微波空腔谐振原理，用来评价片状介电材料的分子链排列状态，同时完成复介电常数检测，弥补光学式相位差设备仅能检测透明样品的局限，透明、不透明试样均可完成无损检测。

设备利用微波极化电场与材料分子偶极子相互作用，旋转样品解析分子取向角、取向度 MOR、复介电常数、介电损耗等关键参数。整套系统由微波测量主机与分析电脑组成，样品无需裁剪、镀膜等预处理，属于非接触无损检测，测试后样品可以继续用于后续实验。设备支持全自动测量，测试数据、曲线可直接保存导出，方便工艺对比与失效分析。

可测样品类型十分广泛，包含高分子拉伸薄膜、发泡片材、纸张、无纺布、预浸料、橡胶板材、陶瓷、纤维增强复合材料、LCP 液晶聚合物等。光学相位差设备只能检测透光薄膜，MOA‑8000 可以测量黑色、填充改性、不透明的高分子材料，评价成型、拉伸、热处理带来的分子取向变化，解析薄膜波音现象，评估纤维排布各向异性。

该设备主要应用于高分子新材料研发，分析拉伸工艺对分子排布的影响；电子材料行业评估液晶聚合物、绝缘基材的取向与介电性能；复合材料行业检测纤维取向状态；也用于包装材料、造纸行业以及高校材料科研。分子取向直接影响材料强度、热收缩、电气性能，MOA‑8000 可以量化该指标，辅助配方改良、工艺优化与来料品质管控，为各向异性材料开发提供可靠检测手段。

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