OSI王子计测带样品供料的相位差测量装置
更新时间:2026-08-14
简要描述:
OSI王子计测带样品供料的相位差测量装置测量方法:并行尼科尔旋转法测量波长:450、500、550、590、630、750 nm
型号:KOBRA-WFD0点击量:5
OSI王子计测带样品供料的相位差测量装置
OSI王子计测带样品供料的相位差测量装置
相差测量装置是 OSI 王子计测面向各向异性光学材料开发的非接触式精密检测设备,依托平行尼科尔旋转法检测原理,完成相位差、双折射、分子取向角、椭圆偏振等关键光学参数检测,服务材料研发、来料检验以及生产质量管控场景。
设备利用偏振光解析技术,偏振光穿过样品后,受材料分子取向影响产生光程差,系统采集光强信号运算,输出样品光学特性数据。检测量程覆盖超低位相差至高相位差区间,兼顾超薄 OLED 基材与厚高分子板材检测,角度分辨能力优异,测量重复性稳定。设备搭载多波段 LED 光源,光源使用寿命长,无需频繁更换耗材,支持多波长检测,可获取材料波长色散特性,也可拓展斜入射测试,模拟不同视角下材料光学表现。
整机采用非接触无损检测方式,不会划伤样品,透明、半透明高分子薄膜均可直接测试。可配置不同样品平台,支持单点检测、二维面分布扫描,长尺薄膜也可实现连续扫描。配套专业分析软件,能够生成相位差分布曲线,测试数据支持导出,可对接工厂管理系统,实现数据记录与判定。
该设备主要用于显示面板行业,检测 LCD、OLED 配套相位差膜、偏光片、补偿膜,评估面板视角与色彩表现。在高分子材料领域,用于 PI、COP 等拉伸薄膜,评价分子取向、拉伸工艺效果。同时也用于光学基板、光学树脂器件的性能评估,高校新材料科研实验。通过精准量化材料双折射特性,帮助研发人员优化配方工艺,管控来料品质,排查产品不良根源,为光学材料性能评价提供可靠检测手段。