HIOKI日本日置阻抗分析仪 测量频率1MHz~600MHz 测量时间：最快0.5ms 基本精度±0.65%rdg. 主机大小仅机架一半 丰富的接触检查功能

HIOKI日本日置阻抗分析仪 测量频率100kHz~300MHz 测量时间：最快0.5ms 基本精度±0.72%rdg. 主机大小仅机架一半 丰富的接触检查功能

HIOKI日本日置阻抗分析仪 测量频率1MHz~300MHz 测量时间：最快0.5ms（模拟测量时间） 基本精度±0.72%rdg. 主机大小仅机架一半 丰富的接触检查功能

HIOKI日本日置阻抗分析仪 1台仪器实现不同测量条件下的高速检查 测量|Z|、L、C、R 测量频率4Hz~5MHz 测量时间：0.5ms 同时进行扫频测量和LCR测量

HIOKI日本日置C测试仪 C、(tan δ), Q测试，低电阻测量 测试源频率：1kHz，1MHz 测量时间：1.5ms(1MHz) RS-232C，GP-IB

HIOKI日本日置C测试仪 封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 C、D 2项目测试 能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容

HIOKI日本日置C测试仪 C、D 2项目测试 能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容 静电容量:最多可分成14类，能简单地根据测量值进行分类 测试源频率: 120Hz, 1kHz 高速测量: 2ms RS-232C, GP-IB

HIOKI日本日置C测试仪 C、D 2项目测试 能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容 测试源频率: 120Hz, 1kHz 高速测量: 2ms RS-232C

HIOKI日本日置LCR测试仪 测量频率DC，4Hz~8MHz 测量时间：最快1ms 基本精度：±0.05% rdg 1mΩ以上的精度保证，可测量低阻 可内部发生DC偏压测量

HIOKI日本日置LCR测试仪 测量频率1mHz〜200kHz的LCR测试仪 应用覆盖线圈&变压器生产到研发等诸多领域