KOSAKA小坂 高分解能复合粗糙度轮廓测定机
SEF800‑N 高分解能复合测定机，检出器互换，高 Z 向分辨率，自带过载停止防护。

KOSAKA小坂 高分解能复合粗糙度轮廓测定机

KOSAKA小坂 高分解能复合粗糙度轮廓测定机

SEF800‑N 为 SEF800 系列高分解能机型，通过更换检出器，切换表面粗糙度、轮廓形状两种测量模式，实现一台设备完成两类项目检测。设备内置 Plateau 表面解析、Morphological 接触点 Filter 高级解析功能，能够处理特殊纹理工件的数据解析。整机上下左右移动速度大幅提升，检测节奏更快，检出器过负荷停止为标准配置，意外触碰时自动停机，保护精密检出器与触针。

表面粗糙度检测 Z 最大测定范围 600μm，X 最大测定距离 100mm，Z 最小分解能 0.04nm，真直度 0.2μm/100mm。轮廓形状检测 Z 最大测定范围 60mm，X 最大测定距离 100mm，Z 最小分解能 0.025μm，真直度 1.0μm/100mm。轮廓 Z 向分解能力更高，可捕捉工件极其微小的轮廓起伏变化。

多用于精密模具、光学零部件、半导体配件、高精度汽车零件的粗糙度与轮廓检测。高级解析功能针对平台型表面、特殊加工纹理工件提供专业分析能力，长行程满足大尺寸工件扫描。设备移动速度快，适合批量样品检测，过载保护降低维护成本。测量数据可传输至外部电脑，完成数据归档、报告输出，支撑工艺改良、新品研发、出厂质检工作。设备测量重复性优异，适合对形貌检测精度要求严苛的研发实验室与品质检测部门，满足精密制造的检测需求。