KOSAKA小坂 长程高精粗糙度轮廓复合测定机
SEF580A‑G18/D 长行程高精度粗糙度轮廓复合测定机，X 向 100mm 行程，高真直度复合检测。

KOSAKA小坂 长程高精粗糙度轮廓复合测定机

KOSAKA小坂 长程高精粗糙度轮廓复合测定机

SEF580A‑G18/D 为 SEF580A 系列长行程高精度复合测定机型，检出器电动上下 250mm 调节，测头定位精准。触控面板与按键操作并用，可对应多样化检测参数，同时解析复数规格，一次测量完成粗糙度与轮廓形状多维度数据采集。设备支持 USB Memory 向外部 PC 传送测定数据，选配 PC 轮廓形状解析系统可实现更高阶解析。

表面粗糙度检测 Z 轴最大测定范围 600μm，Z 轴最小分解能 0.08nm，X 轴最大测定距离拓展至 100mm；轮廓形状检测 Z 轴最大测定范围 50mm，X 轴最大测定距离 100mm，轮廓分解能 Z 轴 0.1μm、X 轴 0.1μm，真直度测定精度 1.0μm/100mm 以下。更长的 X 向行程与更高的轮廓真直度，适合长尺寸工件一次性连续扫描，减少分段测量误差。

广泛用于汽车长轴类零件、半导体部件、光学元件、长型材的粗糙度与轮廓形状复合检测。电动升降测头适配不同高度工件，长行程可覆盖大尺寸样品完整轮廓。检测数据可导出电脑做深度分析与报告生成，便于企业建立完整产品检测档案。整机兼顾高精度、长行程与复合检测能力，适合研发实验室与品质检测部门高频次高精度检测作业，满足精密制造行业严苛的表面与形状质量管控需求。