JASCO分光 全自动粒子解析扫描电子显微镜
全自动粒子解析专用 SEM，CeB6 电子枪 9nm 分辨率，专注洁净度异物夹杂物质检

JASCO分光 全自动粒子解析扫描电子显微镜

JASCO分光 全自动粒子解析扫描电子显微镜

Phenom ParticleX 是日本分光 JASCO 代理的 Phenom 系列全自动粒子解析专用台式扫描电子显微镜，定位品质管理专用机型。产品搭载高辉度长寿命 CeB6 电子枪，反射电子与二次电子分辨率均为 9nm（选装），专注于清洁度检查、异物检测、钢铁中介在物检查等品质管理场景，是工业质检领域的专用台式电镜选型。

全自动粒子解析性能

产品专为粒子分析场景优化设计，可自动完成样品的图像采集、粒子识别与尺寸统计分析，大幅减少人工操作与数据处理的工作量。自动化流程可保障不同批次检测结果的一致性与可重复性，适配工业质检中高频次、标准化的检测需求，提升品质管控的效率与数据可靠性。

CeB6 电子枪稳定成像

搭载高辉度、长寿命的 CeB6 电子枪，亮度高、寿命长，可长时间连续运行而无需频繁更换灯丝，保障质检工作的连续性。反射电子与二次电子分辨率均可达 9nm（选装），可清晰呈现微小粒子与异物的形貌细节，满足清洁度检测与异物分析的精度要求。

品质管理专用场景适配

产品针对清洁度检查、异物检查、钢铁中介在物检查等品质管理场景做了专项优化，可快速识别样品表面的外来颗粒与异常夹杂，辅助质检人员快速判定产品是否合格。台式机身部署灵活，可直接放置在质检实验室或生产线旁，实现就近取样、快速检测，缩短质检反馈周期。

适用场景

广泛适用于汽车零部件清洁度检测、电子元件异物分析、钢铁材料夹杂物检查、涂层颗粒分析、制造业品质管控等工业质检场景。