产品中心您现在的位置:首页 > 产品展示 > > AITEC艾泰克 备库销售 > LLBGR-H□APAITEC艾泰克高均匀型 LED 缺陷检查光源箱
AITEC艾泰克高均匀型 LED 缺陷检查光源箱

更新时间:2026-10-13

简要描述:

AITEC艾泰克高均匀型 LED 缺陷检查光源箱
适用于高精度表面缺陷检测、半导体晶圆分析及光学元件瑕疵筛查领域。

型号:LLBGR-H□AP点击量:26

  免费咨询:15510016038.

  发邮件给我们:2925710229@qq.com

AITEC艾泰克高均匀型 LED 缺陷检查光源箱

AITEC艾泰克高均匀型 LED 缺陷检查光源箱

一、 产品概述
AITEC 艾泰克 LLBGR-HoAP 是一款专为严苛视觉检测设计的高均匀型 LED 光源箱。它针对传统光源光照不均导致的误检痛点,采用特殊漫反射结构与恒流驱动技术,提供极度均匀的照明环境,是高精度缺陷检测系统的核心成像保障。
二、 核心技术与功能
  • 超高均匀度照明:内部采用多重漫反射板与混光腔设计,出光面均匀度高达 95% 以上,消除中心亮边缘暗的热点效应,确保图像灰度一致性。

  • 缺陷增强算法适配:光谱特性经过优化,能有效凸显物体表面的划痕、凹坑、异物等微小缺陷,降低后期图像算法的阈值分割难度。

  • 数字化精准控制:配备高精度数字显示屏与微调旋钮,支持亮度百分比重现,方便不同批次产品检测参数的快速切换与标准化保存。

三、 结构与稳定性
  • 低热衰设计:采用大面积铝合金散热鳍片与智能温控风扇,确保长时间连续工作下色温与亮度无漂移,保障检测稳定性。

  • 工业级防护:机身通过抗震动与电磁兼容测试,适应工厂现场复杂的电气环境,杜绝光源闪烁干扰相机成像。

四、 典型应用场景
  • 半导体晶圆检测:用于硅片表面微裂纹、颗粒污染物的明场或暗场成像检查。

  • 光学镜片质检:检测镜头玻璃表面的划痕、麻点及镀膜不均匀问题。

  • 精密金属加工:针对不锈钢、铝合金零件表面的拉丝纹、冲压痕进行自动化分拣。

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7

TEL:15510016038

扫码加微信