2026-10-14
2026-07-08
2026-08-20
2026-08-18
2026-09-20
2026-09-03
2026-08-26
2026-07-20
2026-07-07
2026-09-23更新时间:2026-10-13
免费咨询:15510016038.
AITEC艾泰克高均匀型 LED 缺陷检查光源箱
AITEC艾泰克高均匀型 LED 缺陷检查光源箱
超高均匀度照明:内部采用多重漫反射板与混光腔设计,出光面均匀度高达 95% 以上,消除中心亮边缘暗的热点效应,确保图像灰度一致性。
缺陷增强算法适配:光谱特性经过优化,能有效凸显物体表面的划痕、凹坑、异物等微小缺陷,降低后期图像算法的阈值分割难度。
数字化精准控制:配备高精度数字显示屏与微调旋钮,支持亮度百分比重现,方便不同批次产品检测参数的快速切换与标准化保存。
低热衰设计:采用大面积铝合金散热鳍片与智能温控风扇,确保长时间连续工作下色温与亮度无漂移,保障检测稳定性。
工业级防护:机身通过抗震动与电磁兼容测试,适应工厂现场复杂的电气环境,杜绝光源闪烁干扰相机成像。
半导体晶圆检测:用于硅片表面微裂纹、颗粒污染物的明场或暗场成像检查。
光学镜片质检:检测镜头玻璃表面的划痕、麻点及镀膜不均匀问题。
精密金属加工:针对不锈钢、铝合金零件表面的拉丝纹、冲压痕进行自动化分拣。