HIOKI日本日置LCR测试仪
用于生产线和自动化测试领域
40 Hz〜200 kHz 测量时间 : 2 ms

Name: HIOKI日本日置LCR测试仪IM3523A
Brand: HIOKI/日本日置
Availability: InStock

型号：IM3523A点击量：13

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HIOKI日本日置LCR测试仪

测量模式	LCR模式：单一条件测量连续测量模式：通过已保存的条件进行连续测量
测量参数	Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc (DC电阻), Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ)
测量量程	100mΩ～100MΩ,10档量程(所有参数根据Z定义)
可显示量程	Z, Y, Rs, Rp, Rdc, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp : ± (0.00000 [单位]〜9.99999G [单位]) Z和Y为绝对值显示 θ: ± (0.000°〜180.000°), D: ± (0.00000〜9.99999) Q: ± (0.00〜99999.9), Δ%: ± (0.0000%〜999.999%)
基本精度	Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°
测量频率	40Hz ～200kHz （设置分辨率：5 位分辨率）
测量信号等级	V模式，CV模式: 5mV～5Vrms,1mVrms步进 CC模式: 10μA～50mArms,10μArms步进
输出阻抗	常规模式：100Ω
显示	单色LCD
测量时间	2ms(1kHz,FAST,代表值)
功能	比较器，分类测量(BIN功能)，面板锁定/保存、存储功能
接口	EXT I/O(处理器)，USB通讯，LAN
电源	AC 100〜240 V, 50/60 Hz, 50 VA max
尺寸及重量	260W × 88H × 203D mm, 2.1 kg
附件	电源线×1，启动指南×1，使用注意事项×1，LCR应用程序光盘×1

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HIOKI日本日置LCR测试仪用于生产线和自动化测试领域40 Hz〜200 kHz 测量时间 : 2 ms