ADCMT爱德万测试DDR5和LPDDR5的测试系统 为了满足移动设备、数据中心、汽车、游戏主机和显卡等广泛应用中快速增长的内存需求，半导体制造商正在开发具备DDR5和LPDDR5等高速数据传输能力的同步DRAM技术。 “T5503HS2”是为了测试这些高速DRAM而开发的。

ADCMT爱德万记忆测试系统-高稳定 T5851”是一款为高速协议NAND闪存设计的内存测试系统。 随着5G通信时代的到来，UFS（内置控制器的UFS 4.0标准NAND闪存）以及PCI Express的期待也在不断提升 非常适合系统级测试兼容第五代的BGA（球栅阵列）类型固态硬盘。

ADCMT爱德万记忆测试系统-易复用 T5851”是一款专为系统级设备测试设计的新测试解决方案，提供与以往内存测试系统相同的可靠性、低成本和批量生产性能，满足所有客户需求。一款新型多功能内存测试系统，能够同时测试DRAM和NAND闪存

ADCMT爱德万记忆测试系统-强耐久 一款新型多功能内存测试系统，能够同时测试DRAM和NAND闪存

ADCMT爱德万记忆测试系统-广适配 一款新型多功能内存测试系统，能够同时测试DRAM和NAND闪存

ADCMT爱德万记忆测试系统-高并行 支持从闪存评估到批量生产的所有测试物联网（IoT） 随着可穿戴设备等便携设备的普及，闪存需求预计将持续增长，测试成本也需进一步降低。

ADCMT爱德万记忆测试系统 支持从闪存评估到批量生产的所有测试物联网（IoT） 随着可穿戴设备等便携设备的普及，闪存需求预计将持续增长，测试成本也需进一步降低。

ADCMT爱德万记忆测试系统 一套涵盖所有下一代内存芯片高速内存测试的多功能内存测试系统。

ADCMT爱德万记忆测试系统 一种能够测试下一代超高速DRAM（如GDDR7、LPDDR6和DDR6）的内存测试系统

ADCMT爱德万功率半导体测试平台 MT系统是一种用于功率半导体（如IGBT、MOSFET、二极管、晶闸管）以及最新宽禁带器件如碳化硅（SiC）和氮化镓（GaN）的直流/交流测试设备。