OTSUKA日本大塚LED表面划痕检测照灯 OTSUKA EL270B OLED 线性检查照明采用有机 EL 匀光发光面板，光线柔和无眩光，可清晰检出屏幕、光学薄膜、晶圆表面划痕、颗粒与色差；灯头角度可调，台式底座稳固，低发热适配无尘车间，单机可搭配遮光检查舱，是显示与半导体行业精密外观检测专用光源

OTSUKA日本大塚LED工作与检查照明-低眩光 OTSUKA EL270B OLED 线性检查照明采用有机 EL 匀光发光面板，光线柔和无眩光，可清晰检出屏幕、光学薄膜、晶圆表面划痕、颗粒与色差；灯头角度可调，台式底座稳固，低发热适配无尘车间，单机可搭配遮光检查舱，是显示与半导体行业精密外观检测专用光源

OTSUKA日本大塚LED工作与检查照明 OTSUKA EL270B OLED 线性检查照明采用有机 EL 匀光发光面板，光线柔和无眩光，可清晰检出屏幕、光学薄膜、晶圆表面划痕、颗粒与色差；灯头角度可调，台式底座稳固，低发热适配无尘车间，单机可搭配遮光检查舱，是显示与半导体行业精密外观检测专用光源

OTSUKA日本大塚OLED遮阳篷照明-调光 OTSUKA EL270B OLED 线性检查照明采用有机 EL 匀光发光面板，光线柔和无眩光，可清晰检出屏幕、光学薄膜、晶圆表面划痕、颗粒与色差；灯头角度可调，台式底座稳固，低发热适配无尘车间，单机可搭配遮光检查舱，是显示与半导体行业精密外观检测专用光源

OTSUKA日本大塚OLED遮阳篷照明-高显 OTSUKA EL270B OLED 线性检查照明采用有机 EL 匀光发光面板，光线柔和无眩光，可清晰检出屏幕、光学薄膜、晶圆表面划痕、颗粒与色差；灯头角度可调，台式底座稳固，低发热适配无尘车间，单机可搭配遮光检查舱，是显示与半导体行业精密外观检测专用光源

OTSUKA日本大塚OLED检查照明-无级可调光 OTSUKA EL270B OLED 线性检查照明采用有机 EL 匀光发光面板，光线柔和无眩光，可清晰检出屏幕、光学薄膜、晶圆表面划痕、颗粒与色差；灯头角度可调，台式底座稳固，低发热适配无尘车间，单机可搭配遮光检查舱，是显示与半导体行业精密外观检测专用光源

OTSUKA日本大塚OLED检查照明-广域高显色 OTSUKA EL270B OLED 线性检查照明采用有机 EL 匀光发光面板，光线柔和无眩光，可清晰检出屏幕、光学薄膜、晶圆表面划痕、颗粒与色差；灯头角度可调，台式底座稳固，低发热适配无尘车间，单机可搭配遮光检查舱，是显示与半导体行业精密外观检测专用光源

OTSUKA日本大塚OLED检查照明 OTSUKA EL270B OLED 线性检查照明采用有机 EL 匀光发光面板，光线柔和无眩光，可清晰检出屏幕、光学薄膜、晶圆表面划痕、颗粒与色差；灯头角度可调，台式底座稳固，低发热适配无尘车间，单机可搭配遮光检查舱，是显示与半导体行业精密外观检测专用光源

OTSUKA日本大塚放大镜-环形柔光无阴影 日本 OTSUKA 大塚工业 LED 照明放大镜源自八十余年光学制造积淀，搭载多层增透光学镜片与高显色匀光 LED 环形光源，成像通透无畸变、光线柔和无眩光，多倍率镜头可快速切换，亮度无级可调。产品配备多类型安装支架，调节阻尼稳定，另有防静电无尘型号适配半导体无尘车间，低产尘材质不损伤精密工件。整机结构坚固、光源长效耐用

OTSUKA日本大塚放大镜-多层镀膜高透光 日本 OTSUKA 大塚工业 LED 照明放大镜源自八十余年光学制造积淀，搭载多层增透光学镜片与高显色匀光 LED 环形光源，成像通透无畸变、光线柔和无眩光，多倍率镜头可快速切换，亮度无级可调。产品配备多类型安装支架，调节阻尼稳定，另有防静电无尘型号适配半导体无尘车间，低产尘材质不损伤精密工件。整机结构坚固、光源长效耐用