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Ohara小原 防静电硬盘磁头测距标准玻璃盘片

更新时间:2026-10-07

简要描述:

Ohara小原 防静电硬盘磁头测距标准玻璃盘片
硬盘读写磁头测距仪校准,标准玻璃盘片,防静电效果保障磁头测量。

型号:GD-FHT™点击量:64

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Ohara小原 防静电硬盘磁头测距标准玻璃盘片

Ohara小原 防静电硬盘磁头测距标准玻璃盘片

Ohara 小原光学 GD-FHT™是公司研制出的具有防静电效果的硬盘读写磁头测距仪用标准玻璃盘片。产品用于硬盘生产线上磁头飞行高度、测距等参数测量仪器的校准与标准片,保障磁头检测设备测量准确。盘片采用光学玻璃研磨抛光,表面平整度高、粗糙度低,具备标准镜面品质,作为测距仪校准基准。材料本身具有防静电效果,测量过程中不易积累静电,避免静电吸附尘埃、干扰磁头测量信号,保障磁头飞行高度等参数测量数据稳定准确。GD-FHT™盘片尺寸标准,可直接安装在磁头测距仪上使用,作为设备出厂校准、日常期间核查的标准件。盘片表面硬度高,耐磨,长期使用不易划伤,保持标准平面。广泛应用硬盘制造生产线磁头测距仪校准、磁头飞行高度测量设备标准片、硬盘检测仪器期间核查、磁头测试设备出厂校准、硬盘研发实验室测量基准等场景。硬盘厂生产线用 GD-FHT 盘片校准磁头检测设备;磁头测试仪器厂用其做出厂标准件;硬盘研发实验室做磁头飞行高度测量基准。GD-FHT™防静电标准玻璃盘片,以高平整度表面与防静电性能,为硬盘读写磁头测距仪提供可靠测量基准,保障硬盘生产检测数据准确。

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