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CHINO 千野光纤红外温度仪

更新时间:2026-10-06

简要描述:

CHINO 千野光纤红外温度仪
IR‑FAS 光纤红外温度仪,测温 400‑3000℃,10ms 响应,光纤探头适配狭小、强干扰测温环境。

型号:IR‑FAS点击量:71

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CHINO 千野光纤红外温度仪

CHINO 千野光纤红外温度仪

IR‑FAS是 CHINO 千野 IR‑FA 系列光纤传输型红外温度仪单色中高温型号,依靠光纤传导辐射光信号,将小型聚光探头采集到的红外辐射传输至主机检测元件完成测温,解决普通红外测温仪主机无法靠近测温点位的难题。测温范围 400‑3000℃,检测元件为 Si 硅元件,测量波长 0.9μm,响应时间 10 毫秒。

探头体积小巧,尺寸如同手指粗细,可以伸入狭小腔体、真空环境、感应加热周边、设备内部等空间受限位置;光纤具备隔离效果,抗强电磁干扰,适合高频感应加热这类强电磁的工况,主机可安装在远离高温、强干扰的安全区域,主机支持 DIN 导轨安装,方便电控柜内布局。

被测目标的红外辐射经由探头收集,光纤传输信号,主机内部完成信号处理计算温度,探头本身不含电子元器件,不惧局部高温辐射,只有光学部件,大幅提升特殊工况适应性。可应用于真空炉、感应加热热处理、压铸、熔融金属、狭小炉腔内部测温等场景。

信号输出可对接 PLC、记录仪,实现产线温度监控与工艺记录。可配套吹扫配件保护光学探头,降低烟尘杂物对测量镜头的影响,维持测量稳定性。对比一体式红外测温仪,光纤分离结构是它当测温点位空间狭窄、环境高温、电磁干扰强,无法放置测温主机时,IR‑FAS 可以很好完成在线测温作业。设备运行稳定,适配工业连续生产,帮助实现难以接触点位的非接触温度监测,满足各类特殊工位的测温需求。


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