AND爱安德分析型与通用平衡标准天平-防尘
分析款可达万分之一至百万分之一高精度，通用款覆盖多量程常规称重，搭载原厂电磁传感，适配实验室、教学、质检多场景称量。

一、产品材质与核心性能

1. 分析型天平：GX/FZ/BA/BH/BM 系列为主，标配多层玻璃防风罩； BH/TE 机型搭载电动自动防风门、无风离子除静电模块，解决粉体吸附飞散问题；全系支持内置砝码全自动校准，内置温度补偿程序，修正温差带来称量偏差。分度值覆盖 0.1mg、0.01mg、1μg，满足微量试剂、半导体原料、生物医药标准品高精度定量。

2. 通用标准天平：GF/FZ-i/EK/FX 系列，分为千分位精密款、百分位物料款、大量程工业款；基础型号采用外置砝码校准，高配 FZ 系列内置自动内校，机身轻巧，部分款式支持防水防尘升级，适配教学实验、食品检测、小件计数、车间来料粗称。

二、主流型号参数划分

1. 分析高精度系列

• GX/FZ 万分位：120–320g，分度 0.1mg，基础实验室标配；

• BA/BH 半微量：双量程切换，最小分度 0.01mg，半导体、药企专用；

• BM 超微量：5.2g/220g，分度 1μg，质谱、微量催化实验使用。

2. 通用标准系列

• 千分精密款：120–520g，0.001g，院校、小型检测；

• 百分物料款：1200–5200g，0.01g，分装、原料称重；

• 大量程工业款：1–10kg，0.1g，车间大件粗称量。

三、通用核心功能

四、适用领域

五、包装、使用与售后